ИССЛЕДОВАНИЕ ПЛАЗМОННОГО РЕЗОНАНСА В Bi2Se3 И Sb2Te3 МЕТОДОМ ИНФРАКРАСНОЙ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ.

Elvin Husenaga Alizade

Elvin Husenaga Alizade НАНА Институт Физики

Ключевые слова: эллипсометрия, плазмон, плазмоника, дисперсия плазмона, длина свободного пробега плазмона, глубина проникновения плазмона

Аннотация

В инфракрасной области спектра (ИК) методом инфракрасной спектральной эллипсометрии (СЭ) исследованы оптические свойства монокристаллических образцов узкозонных вырожденных полупроводников Bi₂Se₃ и Sb₂Te₃. Изучены транспортные свойства из Друде подгонки диэлектрических функций, полученных с помощью спектроскопической эллипсометрии. Детально исследовано поведение объемного и поверхностного плазмон поляритона. Рассчитаны дисперсия и длина свободного пробега плазмона, глубина скин-слоя для проводящей и диэлектрической поверхности. Оценен вклад плазмона в оптические свойства из спектральной плотности для образцов Bi₂Se₃ и Sb₂Te₃.